經(jīng)過近半個世紀的不斷探索，開發(fā)出一代又一代優(yōu)良的激光粒度分析儀。全新的S3500系列激光粒度分析儀以革新的技術(shù)，拓展測試下限至0.01μm。它采用現(xiàn)代模塊式設(shè)計，內(nèi)置高能量，高穩(wěn)定性，超長壽命的固體二級管激光器。對非球形顆粒的米氏理論修正，保證每一次樣品分析的測量精度。

Microtrac S3500系列產(chǎn)品

藍波2型(BWDL))：濕法測量范圍：0.01-2,800μm；

藍波1型(BWSL))：濕法測量范圍：0.01-2,000μm；

增強型(Enhanced)：濕法測量范圍：0.02-2,800μm；

擴展型(eXtended)：濕法測量范圍：0.02-2,000μm；

特殊型(speciaL)：濕法測量范圍：0.09-1,500μm；

標準型(Standard)：濕法測量范圍：0.25-1,500μm；

高端型(High)：濕法測量范圍：2.75-2,800μm；

基本型(Basic)：濕法測量范圍：0.70-1,000μm；

* 歡迎定制更寬的測量范圍

主要特點：

• Tri-Laser激光系統(tǒng), *消除了不同波長光源對顆粒散射光分布“連接點"的影響和多次米氏理論（Mie Theory）數(shù)學(xué)處理的誤差（米氏理論處理與波長有關(guān)）;

• “Bluewave"激光技術(shù)，拓展測量下限至0.01μm;

• 無需掃描，同步接受全量程散射光信號，保證分析結(jié)果的高重現(xiàn)性及全量程范圍的高分辨率;

• 引進“非球形"顆粒概念對米氏理論計算的校正因子，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫，提高顆粒粒度分布測試的準確性;

• 系統(tǒng)自動對光，內(nèi)置輔助光源用于檢驗和校正檢測器的靈敏度;

• 多種樣品分散系統(tǒng)可供選擇，各種分散系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換簡單方便，結(jié)果穩(wěn)定一致;

• 現(xiàn)代模塊式設(shè)計，可根據(jù)實際應(yīng)用需要允許選擇儀器的配置，以滿足將來的任何需要;

• 數(shù)據(jù)處理靈活方便，體積分布，數(shù)量分布和強度分布，微分與累計百分比以及其他綜合報告形式任意組合，數(shù)據(jù)存儲兼容性強;

• NIST(National Institute of Standards & Technology)標準物質(zhì)認證儀器;

日本型號：MT3300、MT3200、MT3100