X射線熒光光譜儀的設(shè)計(jì)特點(diǎn)及工作原理
2023-02-23
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測(cè)量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。
X射線熒光光譜儀的特點(diǎn)：
1、X射線熒光(XRF)是一種非破壞性的元素分析技術(shù)，可以測(cè)量您的工藝流，而不會(huì)造成任何損失或化學(xué)/物理變化。由此實(shí)現(xiàn)的實(shí)時(shí)在線分析可以快速優(yōu)化許多工藝參數(shù)和產(chǎn)品屬性。
2、EpsilonXflow采用經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的強(qiáng)大Epsilon3X技術(shù)，該技術(shù)由激發(fā)和探測(cè)技術(shù)提供支持。設(shè)計(jì)精良的光路、適合輕元素和重元素的廣泛激發(fā)功能，加上高靈敏度SDD探測(cè)器系統(tǒng)，這一切造就了Epsilon3X的強(qiáng)大性能。所有這些創(chuàng)新共同產(chǎn)生了高度可重復(fù)和準(zhǔn)確的結(jié)果，并且維護(hù)需求低。
3、EpsilonXflow的靈活設(shè)計(jì)使其在許多不同的工藝和工藝條件下都可輕松地實(shí)現(xiàn)集成。我們提供完整解決方案，能夠應(yīng)對(duì)不同的條件。
X射線熒光光譜儀（XRF）是由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)組成的。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。每一種元素會(huì)放射出二次X射線在受到激發(fā)的樣品中，然而具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性是由不同的元素所放射出的二次X射線。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。之后成樣品中各種元素的種類及含量被儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成。
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